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微型拉伸臺是常見的材料力學性能原位測試分析設(shè)備，是一種動態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂機制的手段，在材料科學前沿研究中發(fā)揮了重要作用。在掃描電鏡上進行材料試驗，可以充分利用掃描電鏡的強大的景深、高空間分辨和分析功能，在微觀層面上對材料的力學性能進行動態(tài)研究。本設(shè)備在金屬材料、超微結(jié)構(gòu)材料、無機涂層材料、能源材料、結(jié)構(gòu)陶瓷材料、光功能材料、晶體材料等領(lǐng)域有著重要的作用?？梢詫崿F(xiàn)對多種材料進行拉伸、壓縮、彎曲、蠕變、疲勞試驗，如金屬材料,高分子材料，陶瓷材料等，主要用于對材料...

冷熱拉伸臺主要應(yīng)用于小尺度的相關(guān)的生物、金屬、陶瓷、涂層、玻璃、有機聚合物、纖維等各種材料科學研究，可實現(xiàn)溫度范圍-190~600℃，溫控精度±0.1℃，可載荷5kN。本設(shè)備通過實時獲取材料動態(tài)載荷下，形變和溫度等數(shù)據(jù)，并結(jié)合DIC或視頻引伸計聯(lián)用進行材料微觀結(jié)構(gòu)分析數(shù)據(jù)，實現(xiàn)了定量分析材料微觀力學性質(zhì)、相變行為、取向變化、裂紋萌生和擴展、材料疲勞和斷裂機制、材料彎曲、高溫蠕變性、分層、形成滑移面以及脫落等現(xiàn)象，實現(xiàn)各種材料性能的研究。在柔性小尺寸試樣測試過程中...

半導體冷熱臺設(shè)計新穎、結(jié)構(gòu)簡單、操作方便、溫控性能穩(wěn)定可靠，顯微鏡工作臺面的工作區(qū)域溫度能長時間穩(wěn)定在您所需要的溫度上，誤差不超過±0.5度。只要是生物顯微鏡、倒置生物顯微鏡、體視顯微鏡等，只要有工作臺方面的都可使用本產(chǎn)品。樣品放置在載物片上，載物片直接放置在拋光的加熱元件上且可以進行15mm的X、Y方向移動。樣品腔室是氣密的，氣體閥可以控制腔室內(nèi)的環(huán)境，即惰性氣體或濕度。為了減小樣品上的溫度梯度，加熱臺上的光孔只有2.5mm。其溫度由獨立的溫度控制器進行控制，...

環(huán)境試驗箱是用科技的手段模擬出自然環(huán)境氣候，對現(xiàn)代工業(yè)品所造成的破壞性，環(huán)境試驗箱的代表試驗有:低壓(高空)試驗、高溫試驗、低溫試驗、熱沖擊試驗、太陽輻射(日照)試驗、淋雨試驗、防潮試驗、防霉試驗、鹽霧試驗、沙塵試驗等(1)低壓(高空)試驗：試驗適用于在飛機貨艙中空運的兵器，在高原上使用的兵器和空運兵器在飛機受傷后發(fā)生壓力迅速下降的情形。試驗的目的是檢驗兵器在低壓環(huán)境中的使用性能以及壓力迅速下降對兵器性能的影響。模擬的最高高度可達30000m(米)，試驗時取高度相對應(yīng)的溫度值...

液氮高低溫試驗箱是金屬、橡膠、塑料、電子等材料行業(yè)的測試設(shè)備，用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)溫及溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。液氮高低溫試驗箱采用進口觸摸控制器，溫度、濕度的時間數(shù)據(jù)設(shè)定后，可轉(zhuǎn)換成設(shè)定曲線，實現(xiàn)了遠程可視控制。設(shè)備設(shè)有管理界面和觸摸式自動控制系統(tǒng)，實現(xiàn)自動控制。同時采用RS485通信接口與遠程計算機連接，實現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)管理和遠程監(jiān)控。在使用過程中做好以下幾點，能有效延長液氮高低溫試驗箱的使用壽命：...

XRD通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。用于確定晶體結(jié)構(gòu)。其中晶體結(jié)構(gòu)導致入射X射線束衍射到許多特定方向。通過測量這些衍射光束的角度和強度，晶體學家可以產(chǎn)生晶體內(nèi)電子密度的三維圖像。根據(jù)該電子密度，可以確定晶體中原子的平均位置，以及它們的化學鍵和各種其他信息。1.XRD研究的是材料的體相還是表面相？XRD采用單色X射線為衍射源，一般可以穿透固體，從而驗證其內(nèi)部結(jié)構(gòu)，因此XRD給出的是材料的體相結(jié)構(gòu)信息。2...

探針臺主要應(yīng)用于半導體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。探針臺的維護工作探針測試臺x-y工作臺的分類縱觀國內(nèi)外的自動探針測試臺在功能及組成上大同小異，即主要由x-y向工作臺，可編程承片臺、探卡/探卡支架、打點器、探邊器、操作手柄等組成，并配有與測試儀(TESTER)相連的通訊接口。但如果按其x-y工作臺結(jié)構(gòu)的不同可為兩大類，即：以美國EG公司為代表的平面電機型x-y工...